0 Mėgstami
0Krepšelis

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

221,69 
221,69 
2025-07-31 221.6900 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 16-20 darbo dienų užsakymams nuo 19,00 

Knygos aprašymas

This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.

Informacija

Autorius: David C. Cox
Leidėjas: Morgan & Claypool Publishers
Išleidimo metai: 2015
Knygos puslapių skaičius: 84
ISBN-10: 1681740206
ISBN-13: 9781681740201
Formatas: Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų
Žanras: Instruments and instrumentation

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology“