0 Mėgstami
0Krepšelis

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27¿31, 1979

169,38 
169,38 
2025-07-31 169.3800 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 13-17 darbo dienų užsakymams nuo 19,00 

Informacija

Serija: Springer Series in Chemical Physics
Leidėjas: Springer Berlin Heidelberg
Išleidimo metai: 2011
Knygos puslapių skaičius: 320
ISBN-10: 3642618731
ISBN-13: 9783642618734
Formatas: Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų
Žanras: Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27¿31, 1979“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27¿31, 1979“