0 Mėgstami
0Krepšelis

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

169,38 
169,38 
2025-07-31 169.3800 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 18-22 darbo dienų užsakymams nuo 19,00 

Informacija

Autorius: Vishwani D. Agrawal, Kwang-Ting (Tim) Cheng,
Serija: The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Leidėjas: Springer US
Išleidimo metai: 1989
Knygos puslapių skaičius: 164
ISBN-10: 0792390253
ISBN-13: 9780792390251
Formatas: Knyga kietu viršeliu
Kalba: Anglų
Žanras: Electrical engineering

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation“