0 Mėgstami
0Krepšelis
164,98 
164,98 
2025-07-31 164.9800 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 18-22 darbo dienų užsakymams nuo 19,00 

Knygos aprašymas

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Informacija

Autorius: Mohammad Tehranipoor, Krishnendu Chakrabarty, Ke Peng,
Leidėjas: Springer US
Išleidimo metai: 2011
Knygos puslapių skaičius: 232
ISBN-10: 1441982965
ISBN-13: 9781441982964
Formatas: Knyga kietu viršeliu
Kalba: Anglų
Žanras: Electronics: circuits and components

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Test and Diagnosis for Small-Delay Defects“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Test and Diagnosis for Small-Delay Defects“