0 Mėgstami
0Krepšelis
185,04 
185,04 
2025-07-31 185.0400 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 13-17 darbo dienų užsakymams nuo 19,00 

Knygos aprašymas

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Informacija

Autorius: Mohammad Tehranipoor, Krishnendu Chakrabarty, Ke Peng,
Leidėjas: Springer New York
Išleidimo metai: 2014
Knygos puslapių skaičius: 232
ISBN-10: 1489989528
ISBN-13: 9781489989529
Formatas: Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų
Žanras: Electronics: circuits and components

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Test and Diagnosis for Small-Delay Defects“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Test and Diagnosis for Small-Delay Defects“